آپٹیکل تاخیر لائن: وقت حل شدہ پیمائش کی کلید

آپٹیکل تاخیر لائن: وقت حل شدہ پیمائش کی کلید
کسی بھی وقت حل شدہ سپیکٹروسکوپی یا متحرک تجربات میں قابل اعتماد تاخیر پیدا کرنے کے لیے ایک درست طریقہ حاصل کرنے کے لیے، کئی عواملتاخیر لائنلکیری سطح سے متعلق غلطیوں کو کم کرنے یا ختم کرنے کے لیے سطح پر غور کیا جانا چاہیے۔ کسی بھی وقت حل شدہ سپیکٹروسکوپی اور ڈائنامکس کے تجربات میں، سب سے اہم اجزاء میں سے ایک آپٹیکل تاخیر کی لکیر ہے۔ ایک عام آپٹیکل تاخیری لکیر ترجمے کے مرحلے پر پیچھے ریفلیکٹر یا فولڈنگ آئینے پر مشتمل ہوتی ہے (شکل 1)۔ ترجمہ کے مرحلے کا انتخاب کرتے وقت، اسٹیج اور ڈرائیور یا کنٹرولر کے کچھ پیرامیٹرز پر غور کیا جانا چاہیے، کیونکہ وہ ڈیٹا کے تجزیہ اور تشریح کو متاثر کر سکتے ہیں۔ کلیدی موشن کنٹرول پیرامیٹرز جو وقت سے حل شدہ پیمائشوں کو متاثر کرتے ہیں ان میں کل تاخیر، کم از کم انکریمنٹل موشن (MIM)، ریپیٹ ایبلٹی، درستگی، اور مکینیکل خرابی شامل ہیں۔

پہلا پیرامیٹر جس پر لکیری سطح پر غور کرنے کی ضرورت ہے وہ ہے کل تاخیر (T) - روشنی کو پسماندہ انعکاس تک پھیلنے کے لیے درکار وقتآپٹیکل ڈیوائساور واپسی کا راستہ بنائیں۔ اس کا براہ راست تعلق لکیری مرحلے کی سفری حد (L) سے ہے: T = 2*L/c، جہاں c ایک خلا میں روشنی کی رفتار ہے۔ اگلا سب سے اہم پیرامیٹر تاخیر کا حل (Δτ) ہے، جس کا تعلق ترجمے کی سطح کے MIM سے ہے اور فارمولہ Δτ = 2*MIM/c استعمال کرکے شمار کیا جاتا ہے۔
ایم آئی ایم اور موشن سسٹم کے ریزولوشن کے درمیان فرق کرنا بہت ضروری ہے کیونکہ وہ دو الگ الگ تصورات کی نمائندگی کرتے ہیں۔ ایم آئی ایم سے مراد سب سے چھوٹی انکریمنٹل حرکت ہے جسے آلہ مسلسل اور قابل اعتماد طریقے سے منتقل کر سکتا ہے، اس طرح یہ نظام کی صلاحیت کی نمائندگی کرتا ہے۔ دوسری طرف، ریزولیوشن (ڈسپلے یا انکوڈر ریزولوشن) وہ سب سے چھوٹی قدر ہے جسے کنٹرولر ڈسپلے کر سکتا ہے یا ڈیزائن کی خصوصیت کا حوالہ دیتے ہوئے، انکوڈر کی سب سے چھوٹی انکریمنٹل ویلیو ہے۔
ایک اور اسٹیج پیرامیٹر جو ایم آئی ایم کے طور پر اتنا ہی اہم ہے اسٹیج ریپیٹ ایبلٹی ہے، جس سے مراد سسٹم کی متعدد کوششوں کے بعد کمانڈڈ پوزیشن تک پہنچنے کی صلاحیت ہے۔ مخصوص وقت سے حل شدہ پیمائشوں میں، لکیری مرحلہ ایک مخصوص فاصلے کے اندر اسکین کرتا ہے (ایک مخصوص وقت کی تاخیر کے مطابق) اور ہدف کے نمونے کے کچھ سگنلز کو وقت کی تاخیر کے فعل کے طور پر ریکارڈ کرتا ہے۔ نمونے کی سگنل کی شدت اور متوقع سگنل ٹو شور کے تناسب کی بنیاد پر، ایک سے زیادہ اسکینز کی اوسط قدر وقت کے ساتھ حل شدہ پیمائش میں عام طور پر استعمال شدہ طریقہ ہے۔ اس طریقہ کار کے ذریعے، لکیری مرحلے کے لیے یہ بہت ضروری ہے کہ اعادہ کی اعلی صلاحیت ہو۔